低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng)

低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng)

低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng)當(dāng)通過(guò)LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測(cè)量介電常數(shù)時(shí)，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對(duì)于加載的電場(chǎng)具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。

非線性介電響應(yīng)：
      -當(dāng)通過(guò)LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測(cè)量介電常數(shù)時(shí)，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對(duì)于加載的電場(chǎng)具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。
      -在很多應(yīng)用中，例如電容器和驅(qū)動(dòng)器，介電層>10V/um或者100V/um的高電場(chǎng)下工作，它們的有效介電常數(shù)和損耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析儀的測(cè)量值@1Vrms。
      -在介電測(cè)試過(guò)程中直接加載一個(gè)高壓信號(hào)，如果樣品突然發(fā)生介電擊穿，這對(duì)于昂貴的LCR Meter有很大的損壞風(fēng)險(xiǎn)。

因此美國(guó)Polyk Technologies公司研發(fā)了此款寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng)，有效的避免了上述問(wèn)題的發(fā)生。

低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng)

技術(shù)規(guī)格：
1）大電壓：±4000V；
2）大電流：±20mA；
3）頻率范圍：100Hz to 1MHz；
4）電容范圍：100pF to 100nF；
5）溫度范圍：-184℃ to 250℃；

6）溫度控制腔室：-75℃ to 200℃，無(wú)需液氮；（可選）

7）溫度控制腔室：室溫 to 1000℃；（可選）
8）寬頻范圍：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(與配備的阻抗分析儀相關(guān));（可選）
9）Large AC信號(hào)單元；（可選）